2024年4月5日
一般財団法人日本品質保証機構
当機構は、米国試験所認定協会(A2LA)からISO/IEC 17025に基づく校正事業者の認定を受けております。このたび計量計測センターでは、2024年3月22日付でA2LA認定において認定品目の追加、一部認定範囲を拡大しました。
新たにA2LAシンボル付きの証明書を発行できるようになった品目・範囲は以下のとおりです。
詳しくは末尾のお問い合わせ先(計量計測センター カスタマーサービス課)までご連絡ください。
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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バースト試験器 | パルス波形 (ピーク電圧、立ち上がり時間、 半値幅、繰返し周波数) |
±0.25,0.5,1,2,4 kV |
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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プラグゲージ ねじプラグゲージ |
外径 有効径 外径 |
250 mm以下 (200 mm以下から範囲拡大) 120 mm以下 (50 mm以下から範囲拡大) |
デジタルリニアハイト※ | 指示誤差 | 900 mm以下 (600 mm以下から範囲拡大) |
※出張校正も可能です。出張可能な範囲は別途お問い合わせください。
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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抵抗器 直流電源 CT 電流センサ |
直流電流 | 100 A以上 1000 A以下 |
クランプメータ | 直流電流 | 2500 A超 5000 A以下 |
クランプメータ | 交流電流 | 50 Hz以上 60 Hz以下 3000 A超 6000 A以下 |
オシロスコープ校正器 | 出力レベル(パルス) | 10 Hz以上 50 Hz未満 1 mVp-p以上 100 mV未満 |
オシロスコープ校正器 | 出力レベル(パルス) | 10 Hz以上 10 kHz以下 100 Vp-p超 130 Vp-p以下 50 Hz以上 10 kHz以下 1 mVp-p以上 10 mVp-p未満 |
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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磁界測定器 | 磁束密度 | DC 0.1 T以上 2 T以下 |
レーザビーム用光パワーメータ | レーザビームパワー | 1064 nm帯 10 μW ~ 10 mW(新規登録) |
レーザビーム用光パワーメータ | レーザビームパワー | 780 nm帯 10 μW ~ 10 mW (3 mWから上限範囲拡大) |
ファイバ用光パワーメータ | 光ファイバパワー | 850 nm帯 -20 dBm ~ -7 dBm 1280 nm帯 ~ 1340 nm帯 -20 dBm ~ 10 dBm 1520 nm帯 ~ 1630 nm帯 -20 dBm ~ 10 dBm 1310 nm帯, 1550 nm帯 -60dBm ~ 0 dBm (dBm単位を新規登録) |
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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デジタル温度計 | 温度 | 温度-195.8 ℃, -100 ℃ ~ 1200 ℃ (1100 ℃から上限範囲拡大) |
熱電対 | 温度 | 温度-195.8 ℃, -50 ℃ ~ 1200 ℃ (1100 ℃から上限範囲拡大) |
品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
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Spectrophotometers Filters 分光光度計校正用光学フィルタ Ultraviolet glass filter 紫外域用光学フィルタ |
Transmittance 透過率 |
200.0 nm ~ 300.0 nm (225 nmから200 nmまで下限範囲拡大) |