2024年4月5日
一般財団法人日本品質保証機構
当機構は、米国試験所認定協会（A2LA）からISO/IEC 17025に基づく校正事業者の認定を受けております。このたび計量計測センターでは、2024年3月22日付でA2LA認定において認定品目の追加、一部認定範囲を拡大しました。
新たにA2LAシンボル付きの証明書を発行できるようになった品目・範囲は以下のとおりです。
詳しくは末尾のお問い合わせ先（計量計測センター カスタマーサービス課）までご連絡ください。
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| バースト試験器 | パルス波形 （ピーク電圧、立ち上がり時間、 半値幅、繰返し周波数） |
±0.25,0.5,1,2,4 kV |
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| プラグゲージ ねじプラグゲージ |
外径 有効径 外径 |
250 mm以下 （200 mm以下から範囲拡大） 120 mm以下 （50 mm以下から範囲拡大） |
| デジタルリニアハイト※ | 指示誤差 | 900 mm以下 （600 mm以下から範囲拡大） |
※出張校正も可能です。
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| 抵抗器 直流電源 CT 電流センサ |
直流電流 | 100 A以上 1000 A以下 |
| クランプメータ | 直流電流 | 2500 A超 5000 A以下 |
| クランプメータ | 交流電流 | 50 Hz以上 60 Hz以下 3000 A超 6000 A以下 |
| オシロスコープ校正器 | 出力レベル（パルス） | 10 Hz以上 50 Hz未満 1 mVp-p以上 100 mV未満 |
| オシロスコープ校正器 | 出力レベル（パルス） | 10 Hz以上 10 kHz以下 100 Vp-p超 130 Vp-p以下 50 Hz以上 10 kHz以下 1 mVp-p以上 10 mVp-p未満 |
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| 磁界測定器 | 磁束密度 | DC 0.1 T以上 2 T以下 |
| レーザビーム用光パワーメータ | レーザビームパワー | 1064 nm帯 10 μW ～ 10 mW（新規登録） |
| レーザビーム用光パワーメータ | レーザビームパワー | 780 nm帯 10 μW ～ 10 mW （3 mWから上限範囲拡大） |
| ファイバ用光パワーメータ | 光ファイバパワー | 850 nm帯 -20 dBm ～ -7 dBm 1280 nm帯 ～ 1340 nm帯 -20 dBm ～ 10 dBm 1520 nm帯 ～ 1630 nm帯 -20 dBm ～ 10 dBm 1310 nm帯, 1550 nm帯 -60dBm ～ 0 dBm （dBm単位を新規登録） |
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| デジタル温度計 | 温度 | 温度-195.8 ℃, -100 ℃ ～ 1200 ℃ （1100 ℃から上限範囲拡大） |
| 熱電対 | 温度 | 温度-195.8 ℃, -50 ℃ ～ 1200 ℃ （1100 ℃から上限範囲拡大） |
| 品目 | 校正項目 | 校正範囲 |
|---|---|---|
| Spectrophotometers Filters 分光光度計校正用光学フィルタ Ultraviolet glass filter 紫外域用光学フィルタ |
Transmittance 透過率 |
200.0 nm ～ 300.0 nm （225 nmから200 nmまで下限範囲拡大） |
