対応サービス
対象機器
ブロックゲージ(光波干渉測定、比較測定)、リングゲージ、プラグゲージ、ピンゲージ、テーパゲージ、ねじリングゲージ、ねじプラグゲージ、ねじ測定用三針、基準棒、ステップゲージ、キャリパチェッカ、内側マイクロチェッカ、チェックマスタ、デプスマイクロチェッカ、ダイヤルゲージ校正器、シリンダゲージテスタ、すきまゲージ(シックネスゲージ)、はさみゲージ、テストバー、シックネスゲージ、オプチカルフラット、オプチカルパラレル など
校正項目
寸法、単独有効径、指示誤差、平面度、平行度 など
校正範囲
ブロックゲージ |
: |
0.1 mm≦L≦1000 mm |
リングゲージ |
: |
0.1 mm≦D≦250 mm |
プラグゲージ |
: |
1 ≦D≦250 mm(校正可能範囲 D≦350 mm) |
ピンゲージ |
: |
0.1 ≦D≦250 mm |
ねじプラグゲージ |
: |
D≦150 mm(校正可能範囲 D≦200 mm) |
ねじ測定用三針 |
: |
D≦6 mm |
基準棒 |
: |
L≦1000 mm |
ステップゲージ |
: |
L≦1050 mm |
ダイヤルゲージ校正器 |
: |
L≦100 mm |
オプチカルフラット |
: |
D≦150 mm |
オプチカルパラレル |
: |
D≦30 mm(校正可能範囲D≦150 mm) |
※他の機器についてはお問い合わせください。
※校正範囲、JCSSまたはA2LA認定範囲、校正の不確かさなどは校正事業所により異なります。
詳しくは、下記事業所までお問い合わせください。